Kopen DS2172T+T&R met BYCHPS
Koop met garantie
DS2172T+T&R
- Onderdeel nummer:
- DS2172T+T&R
- Fabrikant:
- Maxim Integrated
- Beschrijving:
- IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
- Leid Free Status / RoHS Status:
- Loodvrij / RoHS-conform
- beschikbare kwaliteit:
- 13194 Pieces
- Data papier:
- DS2172T+T&R.pdf
Invoering
BYCHIPS is de voorraadverdeler voor DS2172T+T&R, we hebben de voorraden voor directe verzending en ook beschikbaar voor langdurige levering. Stuur ons uw aankoopplan voor DS2172T+T&R per e-mail, we geven u een beste prijs volgens uw plan.
bestek
| Voltage - Levering: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Leverancier Device Pakket: | 32-TQFP (7x7) |
| Serie: | - |
| Vermogen (Watt): | - |
| Packaging: | Tape & Reel (TR) |
| Verpakking / doos: | 32-TQFP |
| Temperatuur: | 0°C ~ 70°C |
| Aantal circuits: | 1 |
| montage Type: | Surface Mount |
| Vochtgevoeligheidsniveau (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Fabrikant Onderdeelnummer: | DS2172T+T&R |
| Interface: | T1 |
| inclusief: | Error Counter, Pattern Generator and Detector |
| Functie: | Bit Error Rate Tester (BERT) |
| Uitgebreide beschrijving: | Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7) |
| Beschrijving: | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| Current - Supply: | 10mA |
| Email: | [email protected] |
Verwante onderdelen voor DS2172T+T&R
| Beeld | Onderdeel nummer | fabrikanten | Beschrijving | Uitzicht |
|---|---|---|---|---|
 |
DS2176QN | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC | Onderzoek |
 |
DS2175SN | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | Onderzoek |
 |
DS2172T+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Onderzoek |
 |
DS2175 | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Onderzoek |
|
DS2175+ | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Onderzoek |
|
DS2172TN+T&R | Maxim Integrated | IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP | Onderzoek |
|
DS2172TN+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Onderzoek |
|
DS2172T/T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Onderzoek |
|
DS2176Q/T&R | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC | Onderzoek |
|
DS2172T | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Onderzoek |
|
DS2172TN | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Onderzoek |
 |
DS2174Q+ | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | Onderzoek |
 |
DS2176+ | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP | Onderzoek |
Latest Nieuws
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog